미세 회로의 상태를 확인하는 방법은 0007에 떨어졌습니다. 멀티 미터와 특수 테스터로 미세 회로를 확인하십시오. 보호에 의한 전원 공급 차단
5볼트의 전압에서 안정적으로 작동하는 PIC16F628 마이크로컨트롤러 기반 장치의 전원 공급을 위한 입력 안정화 회로를 조립해야 했습니다. 어렵지 않습니다. PJ7805 집적 회로를 가져 와서 데이터 시트의 다이어그램에 따라 그것을 기반으로 만들었습니다. 나는 전압을 가했고 출력에서 4.9V를 얻었습니다. 오히려 이것으로 충분하지만 완고함과 pedantry가 섞인 완고함이 우세했습니다.
그는 일체형 안정 장치가 있는 상자를 꺼내 해당 품위의 모든 것을 측정하기 시작했습니다. 그리고 실수하지 않기 위해 해당 shemka를 내 앞에 배치했습니다. 그러나 열정은 이미 첫 번째 구성 요소에서 끝났습니다. 악어와 전선을 연결해 만든 이 '손잡이도 없고 다리도 없는 고슴도치'는 자신의 삶을 살고자 했고, 라디오 아마추어의 뜻을 간신히 따랐다. 게다가 출력에서 테스트 한 스태빌라이저는 4.86V를 보여 낙관론을 낙담하게 만들었습니다.
아니요, 예를 들어 간단하지만 그럼에도 불구하고 프로브와 같은 더 중요한 것이 필요합니다. 나는 Yandex 검색 엔진에서 점수를 매겼고 "통합 전압 안정기 제어 콤플렉스" 사진에서 볼 수 있는 것을 얻었습니다. 글쎄, 그것은 평범한 아마추어 라디오 마음을 위한 것이 아닙니다. 바퀴를 재발명해야 한다는 것이 분명해졌습니다.
작성된 구성표는 맨 위 그림보다 분명히 열등합니다. 음, 우리가 할 수 있는 일이 없습니다. 우리가 할 수 있는 일입니다. 커패시터 C1은 입력 전압이 갑자기 켜질 때 생성을 제거하고 C2는 과도 간섭 펄스로부터 보호하는 역할을 합니다. 그들의 커패시턴스는 100 마이크로 패럿을 사용하기로 결정했습니다. 테스트 된 안정기의 전압에 따른 전압. 커패시터를 통합 레귤레이터의 하우징에 최대한 가깝게 배치하십시오. 다이오드 VD1 1N4148은 스태빌라이저 출력의 커패시터가 꺼진 후 커패시터를 통해 방전되는 것을 허용하지 않습니다(이는 스태빌라이저의 고장으로 가득 차 있습니다). 유 인. 일체형 스태빌라이저는 U out보다 높아야 합니다. 최소 2.5볼트. 부하도 테스트된 스태빌라이저의 기능에 따라 선택해야 합니다.
케이스의 역할을 위해 멀티미터에 연결하기 위한 접촉 핀이 장착된 자체 제작 버전("com" 잭 마이너스, "V" 플러스)이 선택되었습니다. 테스트 중인 구성 요소의 출력과 회로의 연결 요소로서 이러한 3중 핀 접점을 채택할 수 있습니다. 내 임무는 12볼트 이하의 전압을 위해 설계된 3출력 통합 스태빌라이저를 확인하는 것이므로 회로에 100마이크로패럿 x 16V의 커패시터 2개를 넣을 것입니다 회로에 따른 다이오드.
핀 접점의 직경에 따라 정확히 뚫린 구멍에 삽입하고 내부에서 해당 (작은) 금속 와셔를 따라 각 핀에 놓고 활성 플럭스로 적시고 단단히 누르고 각 와셔를 해당 핀에 납땜합니다. , 핀 와셔 쌍이 서로 연결되는 것을 방지합니다. 이렇게하려면 와셔를 날카롭게해야합니다. 중앙은 양쪽에, 바깥 쪽은 한쪽에 있습니다. 설치 장소의 구멍
송곳으로 뚫으면 구멍 가장자리의 내부 요철이 형성되어 고르게 작동하지 않고 와셔를 단단히 설치합니다. 강도를 위해 핀은 공통 고체 유전체 베이스에도 위치해야 합니다.
납땜 핀과 와셔의 위치에 의해 형성된 접촉 패드는 회로 부품의 설치 위치가 됩니다. 컴팩트하게 밝혀졌으며 테스트중인 통합 스태빌라이저의 단자에서 커패시터의 최소 거리 권장 사항도 충족됩니다. 연결 전선으로 모든 것이 간단합니다. 가장 중요한 것은 적절한 색상 ( "+"의 경우 빨간색, "-"의 경우 검은 색)을 사용하는 것이므로 혼란이 없습니다.
생각 끝에 누름 버튼을 설치하고 전원 입력의 양극 (빨간색) 전선 틈에 넣습니다. 마찬가지로, 이 편리함은 필요한 것의 범주에 속합니다. 3중 핀 접점은 "마무리"되어야 합니다. 여기서는 접점을 구성 요소 리드에 한 번 맞추거나 각 연결 전에 접점 아래에서 스태빌라이저의 다리를 구부리기 위해 약간 구부립니다.
프로브 - 멀티미터 접두사가 준비되었습니다. 프로브 핀을 멀티미터의 해당 소켓에 삽입하고 측정 한계를 20볼트의 직류 전압, 공급선으로 설정합니다. 전류연결하다 실험실 블록장점에 따라 전원 공급 장치를 확인하기 위해 안정 장치를 설치하고 (10V가 있음) PSU에서 전압을 각각 15V로 설정하고 프로브의 전원 버튼을 누릅니다. 장치가 작동했고 디스플레이에 9.91V가 표시되었습니다. 그런 다음 1 분 안에 최대 12V 전압에 대한 3 출력 안정 장치를 모두 알아 냈습니다. 조심스럽게 보관한 것 중 일부는 사용할 수 없는 것으로 판명되었습니다.
총
그러한 간단한 프로브-아마추어 라디오 사업의 셋톱 박스는 매우 심각한 측정 장비만큼 필요하지만 그것들을 만드는 것 (제조에 손을 대는 것)은 너무 게으르지만 헛된 것입니다. 그럼에도 불구하고 이것은 이 간단한 장치가 수집될 때마다 발생하며 창의적인 노력에 귀중한 도움을 제공했습니다. 작가 - Barnaula의 Babay.
스태빌라이저 칩을 확인하는 방법 문서 토론
집적 회로의 분류. IC는 제조 기술에 따라 반도체와 필름으로 나뉜다. 기술의 조합으로 다른 그룹인 하이브리드 그룹을 구현할 수 있습니다.
반도체 IC요소 수가 증가하고 외부 환경의 영향으로부터 보호됩니다. 필름 IC -수동 요소가 있는 회로. 하이브리드 IC에서필름 요소는 수동 요소 및 연결이며 능동 요소는 별도의 반도체 결정에서 만들어진 패키지가 없는 다이오드 및 트랜지스터입니다.
IC의 복잡성은 IC에 포함된 요소 및 구성 요소의 수, 즉 통합 정도에 따라 결정됩니다.
통합 정도에 따라 다음 IC가 구분됩니다.
소규모(MIS) - 20-40개 요소:
중간 규모(SIS) - 50-150 요소;
대형 (BIS) - 150-900 요소;
· 초대형(VLSI) - 1000개 이상의 요소.
유니폴라 MOS 또는 MIS 트랜지스터 기술의 발달로 미세회로의 집적도가 획기적으로 높아졌다.
제조 기술의 상대적 단순성, 저전력 소비, 저비용 및 수많은 귀중한 회로 도구를 통해 마이크로 프로세서에서 우주에서 작동하는 가장 복잡한 장치에 이르기까지 IC를 기반으로 다양한 복잡성과 책임 정도의 장치를 만들 수 있습니다. .
IC는 케이스 디자인과 핀 레이아웃(평면 핀 포함 - DIP PDIP, 핀 핀 포함 - SOIC)과 기능(아날로그 또는 선형 - AIMS, 디지털 - TsIMS)의 두 가지 방식에서 다릅니다.
목표연속 함수의 법칙에 따라 변화하는 신호를 변환하고 처리하도록 설계되었으며 저주파 및 고주파 신호 증폭기, 생성기, 혼합기, 검출기, 즉 활성 요소가 선형 모드에서 작동하는 장치에서.
CIMS이산 함수의 법칙에 따라 변화하는 신호를 변환하고 처리하도록 설계되었습니다. CIMS의 활성 요소는 키 모드에서 작동합니다. CIMS는 컴퓨터, 개별 정보 처리 장치 및 자동화 시스템에 사용됩니다. CIMS 유형 중 하나는 변수에 대해 논리적 연산을 수행하도록 설계된 논리적 요소이며 논리 "0"과 논리 "1"의 두 가지 전압 레벨만 수신할 수 있습니다. 논리 "0"은 낮은 전압 레벨에 해당하고 논리 "1"은 높음에 해당합니다.
몇 가지 간단한 논리 함수는 기본 논리 게이트를 사용하여 구현할 수 있습니다.
· 논리적 추가(접합 또는 OR 연산)은 하나 이상의 입력이 "1"인 경우 함수가 "1"과 같은 값을 취하는 것입니다.
· 논리적 곱셈(결합 또는 AND 연산) "1"이 동시에 모든 입력에 존재하는 경우 함수가 "1"과 같은 값을 취한다는 사실에 있습니다.
· 논리적 부정(반전 또는 NOT 연산)은 주어진 변수와 반대되는 변수를 얻는 것입니다.
그림 6.4는 요소 AND, OR, NOT 및 진리표의 조건부 그래픽 지정(UGO)을 보여줍니다. 진리표에서 "1"은 입력 및 출력에 신호가 있음을 의미하고 "0"은 신호가 없음을 의미합니다.
쌀. 6.4. AND 게이트용 UGO 및 진리표 (ㅏ),또는 (b) 및 NOT( V)
1단 논리의 기능적 요소 외에도 2단 및 3단 논리의 요소가 있습니다.
파라미터 측정그리고 AIMS의 상태를 확인합니다.많은 AIMS 중에서 차동 및 연산 증폭기(op-amp)와 비디오 증폭기 및 기타 광대역 증폭기가 널리 사용됩니다. 연산 증폭기는 2개의 입력(직접 및 반전)과 1개의 출력이 있는 직류 증폭기(UCA)입니다. 이러한 증폭기에 다양한 피드백, 당신은 얻을 수 있습니다 전자 기기, 다양한 신호 변환 기능을 구현합니다. 일반적으로 연산 증폭기의 두 입력에 paraphase(차동) 신호를 공급합니다. 이 두 가지 효과는 입력 중 하나(반전 또는 비반전)가 접지될 수 있는 지점까지 다를 수 있습니다.
연산 증폭기는 첫 번째 단계가 차동인 다단계 증폭기입니다. 출력 스테이지는 충분히 큰 동적 범위를 제공하는 방식으로 구성됩니다. 중간 단계는 추가 증폭 및 레벨 이동을 제공합니다. 입력에 신호가 없을 때 출력 전압이 0이 되도록 레벨 이동이 필요합니다.
값 편차 유입력에서 신호가 없을 때 0에서 출력은 최소화되어야 합니다(밀리볼트의 일부).
OS의 다른 중요한 특성은 다음과 같습니다.
· 입력 차동 단계에서 제공되는 큰 입력 임피던스(수십 - 수백 킬로옴);
낮은 출력 임피던스(수백 옴);
큰 전압 이득(수만 - 수십만);
낮은 전력 소비(수십 밀리와트);
OS의 넓은 대역폭(수만 킬로헤르츠 이상)
온도의 약한 영향.
연산 증폭기에는 선형 IC의 정성적 매개변수를 측정하는 데 도움이 되는 특수 테스터(그룹 L2)에 의해 측정되는 많은 매개변수가 있습니다. 유센티미터 - 혼합 전압 , 나 vx1,2 - 입력 전류, kU-전압 이득, 유출구 - 출력 전압 , 나소비하다 - 소비 전류.
측정된 매개변수를 기준 매개변수와 비교하고 AIMS의 적합성과 상태에 대한 결론을 내립니다. 적합하고 조절됨측정 된 매개 변수가 기준 매개 변수와 완전히 일치하는 미세 회로가 고려됩니다. 적합하고 표준 이하(제한된 맞춤) - 측정된 매개변수가 기준 매개변수와 일치하지 않는 미세 회로 쓸모없는 -미세 회로, 그 매개 변수 케이와또는 유아웃은 0과 같습니다.
파라미터 측정그리고 CIMS의 기능을 확인합니다.
CIMS 테스트는 정적, 동적, 테스트(기능)의 세 가지 주요 방법 중 하나로 수행됩니다.
정적 테스트 CIMS의 정적 매개변수를 측정하여 직류에서 수행됩니다.
동적(임펄스) 테스트동적 매개변수를 측정하여 펄스 모드에서 수행됩니다.
테스트(기능,또는 벤치) 테스트실제 작동 조건을 시뮬레이션할 수 있는 작동 조건의 시뮬레이션을 제공합니다. CIMS의 운용성은 작업 조건에 따라 결정됩니다. 테스트 테스트는 산업용 테스터(그룹 L2)의 도움으로 수행되며 이러한 테스터의 특징은 1단계, 2단계 및 3단계 논리의 논리적 요소를 검증하는 것입니다. 각 특정 논리적 CIMS에 대해 논리 대수학의 법칙을 기반으로 하는 진리표인 개별 테스트 프로그램을 컴파일해야 할 필요성.
이러한 테스터는 플립플롭, 레지스터, 카운터, 디코더 및 마이크로프로세서 테스트를 허용하지 않습니다.
테스트 테스트를 수행하려면 참고 문헌에서 다음 정보를 작성하여 준비 작업을 수행해야 합니다.
마이크로 회로를 어댑터에 올바르게 연결하기 위해 첫 번째 출력 번호가 표시된 IC 케이스 유형
마이크로 회로의 공급 전압을 적용하는 데 필요한 핀 수;
공급 전압의 값;
접지 핀 수;
논리 "1"과 논리 "0"의 레벨에 해당하는 전압 값 ( 유 1과 유 0);
IC의 입력 및 출력에 해당하는 핀 수
CIMS의 블록 다이어그램.
마지막 두 지점에 대한 참조 정보를 기반으로 테스트 프로그램이 컴파일됩니다(전압 측정 결과를 기록하기 위한 추가 열이 있는 진리표).
전자 전압계는 CIMS의 각 출력에 직렬로 연결되어 마이크로 회로의 입력에서 다양한 신호 조합에서 논리 소자의 출력 전압을 측정합니다(컴파일된 테스트 프로그램에 따라).
예상 전압 값과 측정 값을 비교하면 CIMS가 작동하고 있다는 결론을 내릴 수 있습니다.
테스트 검증을 기반으로 작업하는 CIMS 테스터를 사용하면 미세 회로의 전반적인 성능을 확인할 수 있으며 준비 및 실제 테스트에 오랜 시간이 필요합니다.
제안된 프로브를 사용하여 NE555(1006VI1) 마이크로 회로와 광트랜지스터, 광사이리스터, 옵토트리악, 옵토레지스터와 같은 다양한 광소자를 확인할 수 있습니다. 그리고 그것은 이러한 라디오 요소와 함께 간단한 방법그러한 세부 사항을 울리는 것만으로는 작동하지 않으므로 통과하지 마십시오. 그러나 가장 간단한 경우에는 다음 기술을 사용하여 옵토커플러를 테스트할 수 있습니다.
디지털 멀티미터:
여기서 570은 열린 상태에서 떨어지는 밀리볼트입니다. 전자로 전환광트랜지스터. 다이오드 연속성 모드에서는 강하 전압이 측정됩니다. "다이오드" 모드에서 멀티미터는 추가 저항을 통해 2볼트 펄스의 전압을 프로브에 직사각형으로 출력합니다. 연결 P-N전환, 멀티미터의 ADC는 전압이 떨어지는 것을 측정합니다.
광 커플러 및 미세 회로 테스터 555
광 커플러가 다양한 아마추어 라디오 디자인에 점점 더 많이 사용되고 있으므로 약간의 시간을 할애하여 이 테스터를 만드는 것이 좋습니다. 그리고 나는 일반적으로 유명한 KR1006VI1에 대해 침묵합니다. 그들은 거의 모든 곳에 두었습니다. 실제로 테스트 된 미세 회로 555에는 LED HL1, HL2의 깜박임으로 작동 가능성이 입증되는 펄스 발생기가 조립됩니다. 다음은 옵토커플러 프로브입니다.
이렇게 작동합니다. 저항 R9를 통한 세 번째 레그 555의 신호는 VDS1 다이오드 브리지의 한 입력으로 들어갑니다. 작동하는 광 커플러 방사 요소가 접점 A (양극) 및 K (음극)에 연결되면 전류가 브리지를 통해 흐르고 HL3 깜박이는 LED. 옵토 커플러의 수신 요소도 작동하는 경우 HL3이 점화되는 순간 VT1베이스를 열어 VT1베이스에 전류를 전도하여 전류를 전도하고 HL4도 깜박입니다.
추신 일부 555는 다섯 번째 다리의 커패시터로 시작하지 않지만 이것이 오작동을 의미하지는 않으므로 HL1, HL2가 깜박이지 않으면 c2를 단락하지만 그 후에 표시된 LED가 깜박이지 않으면 NE555 칩은 확실히 결함이 있습니다. 행운을 빌어요. 진심으로, Andrey Zhdanov(Master665).
우리 중 많은 사람들은 하나의 고장난 부품으로 인해 전체 장치가 작동을 멈춘다는 사실을 자주 처리해야 했습니다. 오해를 피하기 위해서는 빠르고 정확하게 내용을 확인할 수 있어야 합니다. 이것이 내가 여러분에게 가르칠 것입니다. 먼저 멀티미터가 필요합니다.
바이폴라 트랜지스터
대부분의 경우 트랜지스터는 회로에서 소손됩니다. 적어도 나에게는. 그들이 작동하는지 확인하는 것은 매우 쉽습니다. 우선 Base-Emitter 및 Base-Collector 전환을 울릴 가치가 있습니다. 그들은 한 방향으로 전류를 흐르게 해야 하지만 반대 방향으로는 흐르지 않아야 합니다. PNP가 트랜지스터인지 NPN인지에 따라 베이스로 또는 베이스에서 전류를 전도합니다. 편의상 두 개의 다이오드 형태로 나타낼 수 있습니다.
Emitter-Collector 전환을 울릴 가치도 있습니다. 보다 정확하게는 2 전환입니다. . . 그 외에는 그게 요점이 아닙니다. 모든 트랜지스터에서 트랜지스터가 닫혀 있는 동안 어떤 방향으로도 전류가 흐르지 않아야 합니다. Base에 전압이 가해지면 Base-Emitter 접합을 통해 흐르는 전류가 트랜지스터를 열고 Emitter-Collector 접합의 저항이 거의 0으로 급격히 떨어집니다. 트랜지스터 접합부의 전압 강하는 일반적으로 0.6V 이상입니다. 조립식 트랜지스터(Darlingtons)의 경우 1.2V 이상입니다. 따라서 1.5V 배터리가 장착된 일부 "중국" 멀티미터는 열 수 없습니다. "Krona"로 멀티미터를 얻기 위해 게으르거나 인색하지 마십시오!
일부 최신 트랜지스터에는 Collector-Emitter 회로와 병렬로 내장된 다이오드가 있습니다. 따라서 Collector-Emitter가 한 방향으로 울리면 트랜지스터의 데이터 시트를 연구할 가치가 있습니다!
진술 중 적어도 하나가 확인되지 않으면 트랜지스터가 작동하지 않습니다. 그러나 교체하기 전에 나머지 부품을 확인하십시오. 아마도 그들은 이유입니다!
트랜지스터 단극(필드)
작동하는 전계 효과 트랜지스터는 모든 단자 사이에 무한대의 저항을 가져야 합니다. 또한 장치는 인가된 테스트 전압에 관계없이 무한대의 저항을 보여야 합니다. 몇 가지 예외가 있다는 점에 유의해야 합니다.
확인할 때 테스트 장치의 양극 프로브를 n 형 트랜지스터의 게이트에 연결하고 음극 프로브를 소스에 연결하면 게이트 커패시턴스가 충전되고 트랜지스터가 열립니다. 드레인과 소스 사이의 저항을 측정할 때 장치에 약간의 저항이 표시됩니다. 경험이 부족한 수리공은 오작동으로 인해 트랜지스터의 이러한 동작을 취할 수 있습니다. 따라서 "드레인 소스" 채널을 "울리기" 전에 트랜지스터의 모든 레그를 단락시켜 게이트 커패시턴스를 방전하십시오. 그 후, 드레인-소스 저항은 무한대가 되어야 합니다. 그렇지 않으면 트랜지스터에 결함이 있는 것으로 인식됩니다.
또한 최신 고전력 전계 효과 트랜지스터에는 드레인과 소스 사이에 다이오드가 내장되어 있으므로 드레인-소스 채널은 검사 시 일반 다이오드처럼 동작합니다. 성가신 오류를 피하려면 이러한 다이오드가 있는지 확인하고 트랜지스터 오작동으로 오인하지 마십시오. 복사본의 데이터시트를 스크롤하여 쉽게 확인할 수 있습니다.
커패시터는 또 다른 유형의 무선 구성 요소입니다. 그들은 또한 꽤 자주 실패합니다. 대부분의 경우 전해액은 죽고 필름과 세라믹은 덜 자주 열화됩니다. . .
우선 보드를 육안으로 검사해야 합니다. 일반적으로 죽은 전해질은 부풀어 오르고 심지어 폭발하기도 합니다. 자세히 살펴보세요! 세라믹 커패시터는 팽창하지 않지만 폭발할 수 있으며 이는 눈에 띕니다! 전해질과 마찬가지로 호출이 필요합니다. 전류를 흐르게 해서는 안 됩니다.
커패시터의 전자 테스트를 시작하기 전에 단자 내부 접점의 무결성을 기계적으로 점검해야 합니다.
이렇게하려면 커패시터 리드를 약간의 각도로 번갈아 구부리고 다른 방향으로 부드럽게 돌리고 약간 당겨서 움직이지 않는지 확인하십시오. 커패시터의 적어도 하나의 단자가 축을 중심으로 자유롭게 회전하거나 케이스에서 자유롭게 제거되면 이러한 커패시터는 부적합한 것으로 간주되며 추가 검증 대상이 아닙니다.
또 다른 흥미로운 사실– 커패시터의 충전/방전. 이것은 10마이크로패럿 이상의 용량을 가진 커패시터의 저항을 측정하면 알 수 있습니다. 더 작은 용기에도 있지만 그렇게 눈에 띄지는 않습니다! 프로브를 연결하자마자 저항은 옴 단위가 되지만 1초 안에 무한대로 커집니다! 프로브를 교체하면 효과가 반복됩니다.
따라서 커패시터에 전류가 흐르거나 충전되지 않으면 이미 다른 세계로 간 것입니다.
저항기 - 자주 실패하지는 않지만 대부분 보드에 있습니다. 확인하는 것은 간단합니다. 한 번만 측정하면 됩니다. 저항을 확인하십시오.
무한대보다 작고 0이 아닌 경우 저항을 사용할 가능성이 높습니다. 일반적으로 죽은 저항은 검게 표시됩니다. 과열되었습니다! 그러나 흑인도 교체해야하지만 살아 있습니다. 가열 후 저항이 공칭에서 변경되어 장치 작동에 악영향을 미칠 수 있습니다! 일반적으로 모든 저항을 울릴 가치가 있으며 저항이 공칭과 다른 경우 교체하는 것이 좋습니다. 공칭과의 ±5% 차이는 허용 가능한 것으로 간주됩니다. . .
제 생각에는 다이오드를 확인하는 것이 가장 쉬운 방법입니다. 양극에 플러스가있는 저항을 측정하면 수십 / 수백 옴이 표시되어야합니다. 음극에서 플러스로 측정 - 무한대. 그렇지 않으면 다이오드를 교체해야 합니다. . .
인덕턴스
드물지만 여전히 인덕터가 실패합니다. 여기에는 두 가지 이유가 있습니다. 첫 번째는 턴의 단락이고 두 번째는 휴식입니다. 중단을 계산하는 것은 쉽습니다. 코일의 저항만 확인하면 됩니다. 무한대보다 작으면 모든 것이 정상입니다. 인덕터의 저항은 일반적으로 수백 옴을 넘지 않습니다. 가장 자주 수십. . .
회전 사이의 단락은 계산하기가 다소 어렵습니다. 자기 유도 전압을 확인해야 합니다. 이것은 권선이 1000회 이상인 초크/변압기에서만 작동합니다. 권선에 저전압 펄스를 가한 다음 가스 방전 램프로 이 권선을 닫아야 합니다. 사실, 사랑하는 IN-ka. 임펄스는 일반적으로 CROWN의 접점을 가볍게 만지면 주어집니다. IN-ka가 결국 깜박이면 모든 것이 정상입니다. 그렇지 않은 경우 회전이 단락되었거나 회전이 매우 적습니다. . .
보시다시피 이 방법은 그다지 정확하지도 않고 편리하지도 않습니다. 따라서 먼저 모든 세부 사항을 확인한 다음 턴의 단락에 대해서만 죄를 짓습니다!
광커플러
광 커플러는 실제로 두 개의 장치로 구성되어 있으므로 확인하기가 조금 더 어렵습니다. 먼저 방출 다이오드를 울릴 필요가 있습니다. 기존의 다이오드처럼 한쪽 방향으로 울리고 다른 쪽 방향에서는 유전체 역할을 해야 합니다. 그런 다음 방출 다이오드에 전원을 공급하고 광검출기의 저항을 측정해야 합니다. 광 커플러의 유형에 따라 다이오드, 트랜지스터, 사이리스터 또는 트라이악이 될 수 있습니다. 저항은 0에 가까워야 합니다.
그런 다음 방출 다이오드에서 전원을 제거합니다. 광 검출기의 저항이 무한대로 증가하면 광 커플러가 손상되지 않은 것입니다. 문제가 있으면 교체해야 합니다!
사이리스터
또 다른 중요한 핵심 요소는 사이리스터입니다. 그는 또한 엉망진창을 좋아합니다. 사이리스터도 대칭입니다. 그들은 트라이액이라고 불립니다! 둘 다 확인하기 쉽습니다.
우리는 저항계를 사용하여 양극에 양극 프로브를 연결하고 음극에 음극을 연결합니다. 저항은 무한대입니다. 그런 다음 제어 전극(UE)이 양극에 연결됩니다. 저항은 수백 옴의 어딘가로 떨어집니다. 그런 다음 애노드에서 RE를 분리합니다. 이론적으로 사이리스터 저항은 유지 전류인 낮은 상태를 유지해야 합니다.
그러나 일부 "중국"멀티 미터는 너무 적은 전류를 공급할 수 있으므로 사이리스터가 닫히면 괜찮습니다! 여전히 열려 있으면 음극에서 프로브를 제거하고 몇 초 후에 다시 연결합니다. 이제 사이리스터/트라이액이 확실히 닫혀야 합니다. 저항은 무한대입니다!
일부 논문이 현실과 일치하지 않으면 사이리스터/트라이악이 작동하지 않습니다.
제너 다이오드는 실제로 다이오드의 한 유형입니다. 동일한 방식으로 이를 확인합니다. 음극에 플러스가 있는 제너 다이오드 양단의 전압 강하는 안정화 전압과 같습니다. 반대 방향으로 전도되지만 강하가 더 큽니다. 이를 확인하기 위해 전원 공급 장치, 제너 다이오드 및 300 ... 500 옴 저항을 사용합니다. 아래 그림과 같이 켜고 제너 다이오드의 전압을 측정합니다.
우리는 전원 공급 장치의 전압을 부드럽게 높이고 어느 시점에서 제너 다이오드의 전압이 증가하지 않습니다. 우리는 안정화 전압을 달성했습니다. 이것이 발생하지 않으면 제너 다이오드가 작동하지 않거나 전압을 높여야 합니다. 안정화 전압을 알고 있으면 3V를 추가하고 적용하십시오. 그런 다음 증가하고 제너 다이오드가 안정화되기 시작하지 않으면 결함이 있음을 확인할 수 있습니다!
스테비스터
Stabistor는 다양한 제너 다이오드 중 하나입니다. 그들의 유일한 차이점은 직접 연결의 경우-양극에 플러스가 있으면 스태비스터 양단의 전압 강하는 안정화 전압과 같고 다른 방향에서는 음극에 플러스가 있으면 전류를 전도하지 않는다는 것입니다. 모두. 이것은 여러 개의 다이오드 크리스탈을 직렬로 켜서 달성됩니다.
공급 전압이 1.5V인 멀티미터는 순전히 물리적으로 1.9V와 같은 스태비스터를 울릴 수 없습니다. 따라서 아래 그림과 같이 스태비스터를 켜고 전압을 측정합니다. 약 5V의 전압을 인가해야 합니다. 저항이 200 ... 500 옴인 저항을 사용하십시오. 안정기의 전압을 측정하여 전압을 높입니다.
어느 시점에서 성장이 멈추거나 매우 느리게 성장하기 시작하면 이것이 안정화 전압입니다. 그는 노동자입니다! 전류가 양방향으로 흐르거나 직접 연결 시 전압 강하가 매우 낮으면 교체해야 합니다. 불타버린 것 같습니다!
다양한 종류의 케이블, 어댑터, 커넥터 등을 확인하는 것은 매우 간단합니다. 이렇게 하려면 연락처에 전화를 걸어야 합니다. 루프백에서 각 연락처는 다른 쪽의 한 연락처에서 벨이 울려야 합니다. 연락처에서 다른 사람과 벨이 울리지 않으면 루프가 끊어진 것입니다. 그가 여러 명과 전화를 걸면 단락 루프일 가능성이 큽니다. 어댑터와 커넥터도 마찬가지입니다. 파손되거나 합선된 것은 결함으로 간주되어 사용할 수 없습니다!
미세회로/IC
그들 중 상당수가 있으며 많은 결론을 내리고 다른 기능을 수행합니다. 따라서 미세 회로를 확인하려면 기능적 목적을 고려해야 합니다. 미세 회로의 무결성을 정확하게 확인하는 것은 매우 어렵습니다. 내부에는 각각 수십 또는 수백 개의 트랜지스터, 다이오드, 저항 등을 나타냅니다. 트랜지스터만 2,000,000,000개 이상 있는 하이브리드도 있습니다.
한 가지는 확실합니다. 케이스의 외부 손상, 케이스의 과열 지점, 껍질 및 균열, 지연된 결론이 보이면 마이크로 회로를 교체해야합니다. 크리스탈이 손상되었을 가능성이 큽니다. 가열을 제공하지 않는 가열 마이크로 회로도 교체해야합니다.
미세 회로의 전체 점검은 연결되어야 하는 장치에서만 수행할 수 있습니다. 이 장치는 수리 가능한 장비이거나 특수 테스트 보드일 수 있습니다. 미세 회로를 확인할 때 특정 미세 회로에 대한 사양에서 사용할 수 있는 일반적인 포함 데이터가 사용됩니다.
글쎄, 그게 다야, 당신에게 보풀이없고 탄 부분이 적습니다!
전자 부품 확인 사용 멀티미터 그것은 매우 간단한 작업입니다. 구현을 위해서는 구매가 문제가되지 않는 기존의 중국산 멀티 미터가 필요하며 가장 저렴하고 솔직히 품질이 낮은 모델을 피하는 것이 중요합니다.
포인터 표시기가 있는 아날로그 게이지는 여전히 이러한 작업을 수행할 수 있지만 사용하기가 더 편리합니다. 디지털 멀티미터 , 모드 선택은 스위치를 사용하여 수행되며 측정 결과는 전자 디스플레이에 표시됩니다.
아날로그 및 디지털 멀티미터의 외관:
현재 디지털 멀티미터는 오류 비율이 더 낮고 사용하기 쉽고 데이터가 기기 디스플레이에 즉시 표시되기 때문에 가장 자주 사용됩니다.
디지털 멀티 미터의 규모가 더 크고 온도 센서, 주파수 카운터, 커패시터 테스트 등 편리한 추가 기능이 있습니다.
트랜지스터 점검
기술적 세부 사항에 들어 가지 않으면 전계 효과 및 바이폴라 트랜지스터가 있습니다.
바이폴라 트랜지스터는 2개의 카운터 다이오드로 구성되어 있으므로 "베이스-이미터"와 "베이스-컬렉터"의 원리로 테스트가 수행됩니다. 전류는 한 방향으로만 흐르고 다른 방향으로는 흐르지 않아야 합니다. 이미 터-컬렉터 접합을 확인할 필요가 없습니다. 베이스에 전압이 없지만 전류가 계속 흐르면 장치에 결함이 있는 것입니다.
N 채널형 전계 효과 트랜지스터를 테스트하려면 검은색(음극) 프로브를 드레인 단자에 연결해야 합니다. 빨간색(양극) 프로브가 트랜지스터의 소스 단자에 연결됩니다. 이 경우 트랜지스터가 닫히고 멀티미터는 내부 다이오드에서 약 450mV의 전압 강하를 표시하고 반대의 경우 무한 저항을 표시합니다. 이제 빨간색 프로브를 게이트에 연결한 다음 소스 터미널로 반환해야 합니다. 검정색 프로브는 배수구에 연결된 상태로 유지됩니다. 멀티미터에 280mV가 표시된 후 트랜지스터가 터치에서 열렸습니다. 빨간색 프로브를 분리하지 않고 검정색 프로브를 셔터에 대십시오. 전계 효과 트랜지스터가 닫히고 멀티 미터 디스플레이에 전압 강하가 표시됩니다. 이러한 조작에서 알 수 있듯이 트랜지스터가 작동 중입니다. P 채널 트랜지스터의 진단은 동일한 방식으로 수행되지만 프로브는 서로 바뀝니다.
다이오드 테스트
이제 몇 가지 주요 유형의 다이오드 (제너 다이오드, 바리 캡, 사이리스터, 트라이 액, 조명 및 포토 다이오드)가 생산되며 각각은 특정 목적으로 사용됩니다. 다이오드를 확인하려면 양극에서 플러스 (수십에서 수백 옴이어야 함)로 저항을 측정 한 다음 음극에서 플러스로 무한대가 있어야합니다. 표시기가 다르면 장치에 결함이 있는 것입니다.
저항기 확인
그림에서 볼 수 있듯이 저항도 다릅니다.
모든 저항에서 제조업체는 공칭 저항을 표시합니다. 우리는 그것을 측정합니다. 저항 값의 5% 오차는 허용되며 오차가 크면 장치를 사용하지 않는 것이 좋습니다. 저항이 검게 변하면 저항이 정상 범위 내에 있더라도 사용하지 않는 것이 좋습니다.
커패시터 확인
먼저 커패시터를 살펴보자. 균열이나 부기가 없으면 커패시터 리드를 꼬아야합니다 (조심스럽게!). 스크롤하거나 전혀 당겨지지 않으면 커패시터가 고장난 것입니다. 겉으로보기에 모든 것이 정상이면 멀티 미터로 저항을 확인하면 판독 값이 무한대와 같아야합니다.
인덕터
코일에서는 고장이 다를 수 있습니다. 따라서 먼저 기계적 오작동을 배제합니다. 외부 손상이 없는 경우 멀티미터를 병렬 단자에 연결하여 저항을 측정합니다. 0에 가까워야 합니다. 공칭 값을 초과하면 코일 내부에 고장이 발생했을 수 있습니다. 코일을 되감아 볼 수 있지만 변경하기가 더 쉽습니다.
칩
멀티 미터로 미세 회로를 확인하는 것은 의미가 없습니다. 여기에는 수십, 수백 개의 트랜지스터, 저항 및 다이오드가 포함되어 있습니다. 칩은 기계적 손상, 녹 얼룩 및 과열되어서는 안됩니다. 겉으로보기에 모든 것이 정상이면 미세 회로가 내부에서 손상되었을 가능성이 높으므로 수리가 불가능합니다. 그러나 미세 회로의 출력에서 전압을 확인할 수 있습니다. 전원 출력의 너무 낮은 저항(공통에 비해)은 단락을 나타냅니다. 출력 중 적어도 하나에 결함이 있으면 회로가 더 이상 서비스되지 않을 가능성이 큽니다.